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準(zhǔn)確獲得紙張、薄膜和離型膜上有機(jī)硅涂層的厚度和質(zhì)量至關(guān)重要。我司自主研發(fā)的A550硅油涂布檢測(cè)儀既可以分析PET薄膜，還可以分析格拉辛、淋膜紙及牛皮紙等多種硅油涂布量。
A550硅油涂布檢測(cè)儀
A550硅油涂布檢測(cè)儀具有檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高等優(yōu)點(diǎn)，儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測(cè)器，分辨率能夠達(dá)到 125eV, 能分辨 Al( 鋁 ) 元素和 Si( 硅 ) 元素。可廣泛應(yīng)用于硅油涂布行業(yè)產(chǎn)品工藝及成本的管理，通過(guò)驗(yàn)證上游基礎(chǔ)材料的可靠性、避免存在產(chǎn)品不合格的情況，從而有效避免了因產(chǎn)品次等問(wèn)題所帶來(lái)的對(duì)企業(yè)品牌價(jià)值的影響。
測(cè)試采用X射線熒光光譜原理,測(cè)試過(guò)程無(wú)需耗材
配置高清液晶顯示器,測(cè)試過(guò)程和測(cè)試結(jié)果一目了然
光管垂直照射,硅元素性能得到更強(qiáng)激發(fā)
設(shè)備集成多個(gè) usb 接口，數(shù)據(jù)和通訊傳輸滿足多種要求
測(cè)試下限好,可準(zhǔn)確測(cè)量0.01g/m的涂硅量
空氣光路內(nèi)部環(huán)境得到顯著優(yōu)化,大氣環(huán)境一樣可以直接測(cè)試
采用大面積硅漂移探測(cè)器,測(cè)試結(jié)果極其準(zhǔn)確
一鍵測(cè)試/操作簡(jiǎn)單智能,測(cè)試過(guò)程使用時(shí)間更短,結(jié)果更準(zhǔn)確
快速采用新的模型算法,大大提高了輕元素的測(cè)量穩(wěn)定性
各種薄膜、淋膜、離型膜等
硅油涂布量的測(cè)定
各種薄膜生產(chǎn)過(guò)程中
Si/Al元素等比量的測(cè)定
電子產(chǎn)品保護(hù)膜
硅油殘余量的測(cè)定
電子產(chǎn)品硫化物的殘留量的測(cè)定
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