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    E-find 450 HDXRF高精度雙曲面彎晶單色聚焦X射線熒光光譜儀

    E-find 450 HDXRF高精度雙曲面彎晶單色聚焦X射線熒光光譜儀性能GB43352-2023《快遞包裹重金屬與特定物質限量標準》中元素限值檢測要求,適用于快遞包裝重金屬與特定物質限量檢測分析。

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    E-find 450 HDXRF高精度雙曲面彎晶單色聚焦X射線熒光光譜儀

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    E-find 450 HDXRF高精度雙曲面彎晶單色聚焦X射線熒光光譜儀可快速準確定量分析快遞包裝重金屬元素,其卓越檢測性能可以滿足GB43352-2023《中國快遞包裝重金屬與特定物質限量檢測標準》。E-find 450 可對紙類、塑料類和紡織纖維類等快遞包裝中重金屬與特定物質進行分析。


    工作原理

    雙曲面彎晶單色聚焦X射線熒光光譜儀(HDXRF: High Definition x-ray Fluorescence heavy metal detectionsystem)為能量色散型XRF,工作原理:X光管發(fā)射X射線,經(jīng)過我們專利技術模塊DCC雙曲面彎晶使X射線單色化后再聚焦照射到待測樣品上,樣品產(chǎn)生二次特征X射線熒光。由于單色聚焦后的X射線能量增強,并且沒有雜色光干擾,樣品產(chǎn)生的各個元素特征X射線熒光,經(jīng)過探測器信號計算響應,產(chǎn)生優(yōu)異檢出限和高精度定量結果。各樣品基質在定量方法建立中用FP基

    本參數(shù)法或者標準曲線標定法,實現(xiàn)精準定量分析。

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    基本參數(shù)

    測量范圍

    Al(鋁)-U(鈾)

    測量方法

    單色聚集-X射線熒光光譜法

    探測器

    高性能FAST SDD探測器

    光學系統(tǒng)

    雙曲面彎晶,高效率單色聚焦X射線源

    測量時間

    30-600s

    測量方式

    樣品杯進樣

    樣品腔

    375mm(L)X361mm(W)x103mm(H)

    外形尺寸

    490mm(L)X535mm(W)x422mm(H)

    自旋平臺

    樣品尺寸:(圓形) 直徑:32mm或40mm轉速:15r/min

    重量

    50Kg(不含選配件)

    工作溫度

    -5C-45℃

    檢材

    固體,液體,粉末

    電源

    110-240VAC,50-60Hz

    工作曲線

    食品、礦產(chǎn)、水質及其他自定義

    激發(fā)源

    X射線管,1mA,50kV

    數(shù)據(jù)處理平臺

    聯(lián)想電腦:CPU Intel G6900 3.4GHZ、內存8G固態(tài)硬盤驅動器256G

    軟件

    運行環(huán)境:windows操作系統(tǒng);

    算法優(yōu)勢:基本參數(shù)法,樣品類型適用性強,且分析結果準確

    功能特點:使用簡便,傻瓜式操作;功能豐富;配置靈活


    應用優(yōu)勢

    lHDXRF的主要優(yōu)勢在分析速度快,樣品不需要繁復的前處理,對人員要求不高,使用成本低等。

    l針對整個行業(yè)的檢測需求,目前HDXRF可以應用的場景為快遞包裝材料(紙類、塑料類、紡織纖維類、郵件快遞包裝)結合HDXRF的優(yōu)勢,建議應用重點集中在快遞包裝材料源頭廠家在生產(chǎn)中品質內控及快遞企業(yè)購買包裝材料在流通環(huán)節(jié)進行快速抽檢,還有權威的第三方檢測機構利用HDXRF對快遞企業(yè)送檢樣品,消費者送檢的包裝材料樣品進行快速篩檢

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    儀器特點

    1. 不需要化學消解,測試速度快;

    2. 元素檢出限低,完全滿足GB43352-2023限制要求;

    3. 分析模式:定性掃描分析模式、定量分析模式。

    快速掃描

    E-find450操作簡單,無需復雜的樣品制備步驟,輕松實現(xiàn)工

    作現(xiàn)場快速準確掃描分析的需要。

    1. 2分鐘快速掃描;

    2. 快速區(qū)分超標,合格,灰色地帶樣品。

    準確性和重復性

    選取一定數(shù)量快遞包裝標準樣品,對其中的Cd鎘、Hg汞、Se硒元素進行直接分析,通過分析其測量值 與標準值的相對誤差來考察儀器的測試準確性。數(shù)據(jù)表明HDXRF在超低含量Cd鎘、Hg汞、Se硒檢測 中均可提供精確、穩(wěn)定的結果,檢出限可達到0.1ppm,遠低于國標限定量值

    檢測數(shù)據(jù)

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